W koszyku:
Zobacz co masz w koszyku
0 Produktów
SUMA: 0,00 zł

WŁAŚCIWOŚCI SPEKTRALNE NIEUŻYTKÓW POROLNYCH I ODŁOGÓW NA PODSTAWIE DANYCH NAZIEMNYCH, LOTNICZYCH I SATELITARNYCH

Piekarczyk Jan

WŁAŚCIWOŚCI SPEKTRALNE NIEUŻYTKÓW POROLNYCH I ODŁOGÓW NA PODSTAWIE DANYCH NAZIEMNYCH, LOTNICZYCH I SATELITARNYCH

Producent UAM
Dostępność Dostępny
ISBN: 9788323219712
Liczba stron: 138
Wydanie: 2009
Oprawa: Miękka
Format: B5
Język: Polski
  • Cena katalogowa: 28,35 zł
  • Nasza cena:
  • 27,78 zł
  • Oszczędzasz: 0,57 zł
  • Zamawiana ilość:

Opis książki

W pracy została przeprowadzona analiza możliwości zastosowania teledetekcji do wydzielenia i następnie monitorowania obszarów nieuzytków i odłogów. Jest to temat bardzo ważny ze względu na duże powierzchnie tych gruntów, a monitorowanie i określenie powierzchni nieużytków i odłogów z dużą częstotliwością czasową stanowi niezmiernie istotne zagadnienie dla polskiej gospodarki. Porównano charakterystyki spektralne odłogów i wybranych upraw rolniczych.

Autor w sposób ciekawy i nowy przedstawił zastosowanie różnych zakresów spektralnych, zróznicowanie współczynników odbicie i mozliwość rozpoznania oraz monitorowania obszarów odłogów i ugorów. Cennym materiałem badawczym są przedstawione wyniki korelacji pomiędzy wartościami spektralnymi mierzonymi przez satelitę Aster oraz wskaźnikami roslinnymi i biomasą zieloną oraz biomasą obumarłą na terenach odłogów. W części dotyczącej interpretacji kolorowych zdjęć lotniczych wyprowadzono nowe wskaźniki i wykazano mozliwość zastosowania zdjęć lotniczych do wyodrębnienia odłogów spośród innych obszarów rolniczych.

Słowa kluczowe:
Piekarczyk Jan

Spis treści

Poprzedni produkt

Produkt 61 z 96 w kategorii Szkolnictwo

Następny produkt

Pomoc

Potrzebujesz rady?

Służymy pomocą w godzinach 8-16 za pośrednictwem następujących komunikatorów
GG:6004590
Skype:cymeliapl

  • GG:6004590
  • SKYPE:cymeliapl
Wydawnictwa

Filtruj wydawnictwo


Newsletter

Nie przegap okazji!

Zapisz się, aby otrzymywać newsletter ze specjalnymi ofertami

  • Imię i Nazwisko
  • E-mail: